파장 계란?

파장계는 광섬유에서 레이저 빔의 파장을 측정하는 데 사용되는 장치입니다. 파장계라고도하는 파장계는 제조되는 제품의 광학 요소를 테스트합니다. 매우 정밀한 측정이 필요한 경우 파장계가 사용됩니다.

파장계는 파장 측정에만 사용되는 간섭계입니다. 간섭계는 일반적으로 거울에 의해 제공되는 간섭을 사용하여 광선을 두 개로 분할 한 다음 다시 결합하여 광선을 측정합니다. 결과 모양을 연구함으로써 빔의 측정이 가능합니다.

두 가지 주요 유형의 파장계가 있습니다 : 스캐닝과 정적. 첫 번째 유형은 일반적으로 Scanning Michelson Interferometer를 기반으로합니다. 이러한 유형의 파장계는 3 개의 거울, 광원 및 검출기로 구성됩니다. 십자가 모양과 비슷하게 Michelson Interferometer의 각 부분은 십자가의 한쪽 모서리에 있습니다. 광원은 거울들 중 하나의 반대편에 위치하고, 제 2 거울 및 검출기는 거울들에 수직으로 위치된다. 반은의 세 번째 거울은 중앙에 비스듬히 배치됩니다. 이것은 실제로 빔을 분리하는 거울입니다.

광원이 활성화되면 레이저가 반은 거울에 부딪 히고 빔의 절반이 직선을 통과하고 나머지 절반이 첫 번째에 수직으로 이동합니다. 두 반쪽은 중앙 미러의 뒤쪽과 위쪽에 위치한 미러를 치고 반동하며 반은 미러에 의해 재결합됩니다. 그러면 재결합 된 빔이 검출기로 똑바로 이동하여 결과를 분석합니다.

거울 또는 팔 사이의 거리는 길이의 범위를 스캔하도록 변경 될 수 있습니다. 이 파장계의 정확도는 0.01 nm만큼 클 수 있습니다. 그러나 빔 결함, 길이 드리프트 및 입력 전력 변동과 같은 몇 가지 문제로 인해 정확도가 떨어질 수 있습니다.

대부분의 정적 파장계는 정적 Fizeau 간섭계를 기반으로합니다. 이 파장계에는 움직이는 부품이 없지만 동일한 반사 반사 원리를 사용합니다. 덜 일반적인 정적 파장계는 선형 인 Fabry-Pérot 간섭계를 기반으로합니다. 그러나 이들은 파장계보다 광학 분광계로 더 자주 사용됩니다.

모든 유형의 파장계에 대한 높은 정확도는 설정의 안정성과 디스플레이의 해상도에 따라 다릅니다. 파장이 알려진 참조 레이저는 테스트중인 레이저와 함께 작동하여 정확도를 높이는 데 도움이됩니다. 정확도가 매우 중요한 경우에는 1 분에 한 번씩 기계를 교정해야합니다.

파장은 분광계로도 측정 할 수 있지만, 분광계는 광선의 성분에 대한 자세한 정보를 제공하지만 정밀도는 희생됩니다. 일부 유형의 파장계는 분광계로도 기능 할 수 있으므로 정확도를 유지하면서 추가 정보를 제공합니다.