안과계는 무엇입니까?

각화 계라고도하는 안과계는 시력 검사 중에 각막의 곡률을 측정하는 데 일반적으로 사용되는 의료 기기입니다. 각막은 아이리스와 동공을 덮고있는 눈의 명확한 앞 부분이며, 측정 값은 일반적으로 미스 하펜 각막에 의해 야기되는 시력 문제 인 비점의 존재와 정도를 진단하는 데 사용될 수 있습니다. 이 기기는 콘택트 렌즈를 장착 할 때도 사용되며 콘택트 렌즈를 착용 한 결과 각막의 변화를 모니터링하는 데 사용됩니다. 안과 계층은 눈 수술 중에도 각막에서 정확한 절개를 가능하게하기 위해 사용될 수 있습니다. 안과계를 사용한 시력 검사는 일반적으로 검안사 또는 안과 의사에 의해 사무실 내에서 수행되며, 절차는 비 침습적이며 악기의 일부가 눈을 만질 필요가 없습니다.

안과계라는 단어는 그리스어의 눈, 안과에서 나온 것입니다. 안과, "눈의 과학"은 예를 들어 눈의 해부학, 생리학 및 질병을 다룹니다. 처럼악향은 일반적으로 불규칙 또는 미스 하펜 각막에 의해 발생합니다. 이 결함은 굴절 오류를 유발하여 세부 사항을보기가 어렵고 흐릿한 시력을 제공합니다. 더 드물게, 비율은 각막 뒤의 렌즈가 미스 펜인으로 인해 발생합니다.

안과계는 일반적으로 비율을 진단하고 치료에 필요한 교정 처방전을 결정하는 데 일반적으로 사용됩니다. 시선 검사 중에, 안과 전문의는 악기를 통해 눈을 보며 빛이 학생으로 빛나고 필요한 측정을 얻습니다. 각막의 이러한 측정을 각막 측정 값이라고하며 필요한 처리를 결정하는 데 사용됩니다. 난시의 유형에 따라 안경 또는 콘택트 렌즈를 사용하여 시력을 회복 할 수 있습니다.

안과계는 1880 년 독일의 생리 학자 Hermann von Helmholtz에 의해 발명되었지만이 악기의 현대 버전은 광학을 사용합니다.AL 센서와 컴퓨터 기술인 기본 설계는 여전히 상당히 유사합니다. 각막의 곡률을 정확하게 측정하기 위해 안과계에있는 miRE라는 이미지의 빛나는 패턴이 각막에 반사됩니다. 그런 다음 각막 중앙의 영역 에서이 반사의 크기와 패턴을 측정합니다. 이 반사는 안과 미터의 이미지의 실제 크기와 패턴과 비교됩니다. 기기의 실제 이미지와 각막에서의 반사 사이의 거리를 알면, 각막의 곡률은 수학 공식을 사용하여 결정할 수 있습니다.